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小型冷热冲击试验箱/高低温冲击试验箱

本产品是电子电器零组件、金属、化学材料、自动化零部件、通讯组件、国防工业、航天工业、BGA、PCB基板、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化的理想测试工具,适用于产品高温、低温的可靠性试验,对物品的物理以及其他相关特性进行环境模拟测试,来判断产品的性能是否能够符合预定要求,以便于产品设计、该进、鉴定及出厂检验用。

所属分类:

关键词:

实验室仪器

检测设备


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产品描述

一、产品概述:

本产品是电子电器零组件、金属、化学材料、自动化零部件、通讯组件、国防工业、航天工业、BGA、PCB基板、电子芯片IC、半导体陶瓷及高分子材料之物理性变化的理想测试工具,适用于产品高温、低温的可靠性试验,对物品的物理以及其他相关特性进行环境模拟测试,来判断产品的性能是否能够符合预定要求,以便于产品设计、该进、鉴定及出厂检验用。

 

二、产品特点:

1.采用日本进口品牌7.0寸原装进口触摸屏控制系统,中英文两种语言可切换。

2.标配USB存取功能,随时拷贝试验数据,更加方便人性化。

3.该试验箱主要功能元器件均采用世界名牌配置(含金量高)、技术原理先进可靠、噪音与节能得到最佳控制(其性能可替代国外同类产品)。

4.采用法国”泰康”压缩机组,制冷效果好,性能稳定。

5.专业生产厂家,多年经验积累及品质管控,设备价格合理。

6.SGS实验室,中国农机院,北京质检院第三方检测机构合作品牌,品质保证。


三、产品满足标准(部分):

GB10589-2008 低温试验箱技术条件

GB/T 10592-2008 高低温试验箱技术条件

GJB150.3A-2009, 军用装备实验室环境试验方法 第3部分:高温试验

GJB150.4-1986, 军用装备实验室环境试验方法 第4部分:低温试验

GJB150.5-86军用设备环境试验方法:温度冲击试验

GJB548B-2005 微电子器件试验方法和程序1010.1 温度循环试验条件AB等

 

四、主要性能参数:

1.工作方式:两箱移动式,试验物品随提篮移动,物品在蓄冷蓄热区切换。
2.提篮尺寸(工作室尺寸):300 ×300×300 mm /200×200×300(D深×W宽×H高) 可按要求制作
3.冲击温度:-40℃~﹢150℃/-55℃~﹢150℃/-65℃~﹢150℃(可按要求制作)
4.温度波动度:±0.5℃
5.温度均匀度:±2.0℃
6.温度冲击速率:2~5分钟内完成
7.温度转换时间: 10秒内
8.温度复原时间:≤5分钟                                          
9.高温室温度:+80℃~+200℃(可编程任意设定)               
10.低温室温度:-70℃~-10℃ (可编程任意设定)        
11.试验室承重:标准品10KG以内(订货时需说明)
12.控制方式:微电脑可程式控制+PID+SSR
13.电源:AC380V/50Hz
14.总功率:11.5 KW /9.5KW

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