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PCT加速试验机
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产品名称

PCT加速试验机

产品别称
HASS试验箱
没有此类产品
技术参数
产品描述
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规格参数:

1.内箱尺寸: 300×450 mm(φ×D)圆形试验箱.

2.外箱尺寸: 700×900×650 mm(W×H×D)

3.内箱材质: SUS 316#不锈钢板材质.

4.外箱材质: 高级烤漆。

5.温度范围: 100℃~132℃.  (饱和蒸气温度).

6.湿度范围: 100%RH .  (饱和蒸气湿度).

7.压力范围(表上压力): 0.0Kg/cm2~2.0Kg/cm2控制点压力(安全压力容量3.5Kg/cm2 ).

8.时间范围: 0 ~999 小时可调.

9.温度分布:≤± 2.0℃.

10.升温时间:常温 ~132℃约40分钟内. (控制点温度).

11.加压时间:0.0Kg/cm2 ~2.0Kg/cm2 约45分钟内(控制点压力).

12.控制对象:微电脑+P.I.D.+S.S.R自动演算控制饱和蒸气温度.

13.控制方式:微电脑PID控制.

14.控制精度: ≤± 0.5℃.

15.解析精度:0.1℃.

16.pct高压加速老化试验机压力与温度对照表

 

压力

温度

压力

温度

0.5㎏/

110℃

1.5㎏/

127℃

1.0㎏/

121℃

2.0㎏/

132℃

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一. 用途概述:

PCT老化箱(又名PCT高压加速老化试验机)主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。

暂未实现,敬请期待
暂未实现,敬请期待
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